官网动态

持续分享技术进展与应用实践

关注半导体辐射效应测试方法、器件应用、AccuRad产品和平台服务的最新进展。

AccuRad半导体辐射效应测试系统概念视觉
设备概念视觉 · 正式型号与参数以技术文件为准

内容分类

最新动态

按技术进展、应用洞察、产品更新和企业动态持续发布,帮助您快速进入相关服务、产品和技术页面。

企业动态

安辐瑞德半导体辐射效应测试与验证平台正式上线

平台以X射线TID委托测试为主要业务,并提供器件应用验证、TID-X仪器与实验室建设方案。

查看动态
技术进展

TID偏置条件专题:把器件状态写成可复现的测试条件

从样品—通道映射、设定值与实测值、工作模式和时间控制解释偏置为什么不是附属参数。

查看动态
应用洞察

单晶硅中子辐照:NTD、中子效应与X射线TID如何分流

明确区分NTD材料掺杂、中子位移损伤和X射线总电离剂量三条不同路径。

查看动态
产品更新

AccuRad TID-X:从测试需求确定系统配置

从样品、剂量学、偏置、测量和场地条件出发,说明TID-X系统配置应如何形成。

查看动态
企业动态

测试服务流程更新:从初步需求到报告与复测

明确需求澄清、方案确认、样品接收、测试执行、报告交付和复测服务的衔接方式。

查看动态

预约测试

把关注的问题转成可执行的下一步

如需测试、器件研究、仪器配置或实验室建设,请提交去敏后的初步需求。

提交初步需求
预约测试工作时间4小时内响应