器件方案

按器件结构、工作状态和失效风险设计验证路径

不同器件的敏感结构、参数、功能和保护逻辑不同。测试矩阵必须从应用问题出发，而不是只按设备能力排列。

器件分类

三类主要验证入口

先选择最接近的器件类别，再由测试方案人员确认参数、功能、偏置和交付内容。

SiC、GaN、IGBT和功率二极管的参数漂移、偏置效应和联合应力问题。

FPGA、ASIC、SoC的功能、接口、时序、配置和系统状态评价。

数据保持、错误行为、暗电流、噪声、输出稳定性和保护功能。

能力与结论边界：器件方案用于形成测试问题和验证路径，不构成对任何器件、工艺、供应商或任务环境的适用性保证。

工作路径

同一器件类型也可能因工艺、封装、应用和工作状态不同而需要不同测试矩阵。

明确氧化层、模拟前端、存储单元、配置逻辑、电源管理或成像链路等潜在敏感点。

把电参数、功能状态、错误计数、图像质量或系统输出与剂量节点关联。

根据应用工作状态设置偏置组、对照组、批次和必要的重复样本。

在测试前明确通过、退化、失效、复测和后续联合验证的判断逻辑。

预约测试

提供非敏感的器件类别、测试目的、目标剂量、偏置需求和计划时间，我们将安排对应专业人员进行初步评估。